Correlación entre porpiedades eléctricas y estructura química de la interfase en celdas solares tipo MS

Abstract

Hemos estudiado mediante Espectroscopía de Electrones Auger combinada con Análisis Fac­torial la estructura química de interfases en junturas Sia:H con Sb y Pd. Asimismo, correlacionamos estas mediciones con las características eléctricas de estas junturas. Observa­mos que la presencia de oxígeno en el Sia:H perjudica la calidad de la juntura y enmascara los resultados obtenidos por Auger. Encontramos que el tratamiento térmico de la jun­tura Sb-Sia:H mejora sus características eléctricas, correlacionando este hecho con un ensanchamiento de la interfase. Por otra parte, encontramos que el análisis de la forma de los picos Auger constituye una herramienta apropiada para el estudio de las interfases metal-semiconductor.